一、考試性質與范圍
《晶體光學》是地質學專業碩士研究生的入學專業基礎考試課程。主要考查學生對《晶體光學》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具備運用偏光顯微鏡，在單偏光系統、正交偏光系統和錐光（聚斂偏光）系統下觀察和鑒定透明礦物晶體光學性質的基本能力?？荚嚪秶ňw光學基礎、光率體和光性方位、偏光顯微鏡原理與調節，以及單偏光、正交偏光和錐光（聚斂偏光）系統下晶體的光學性質與測定方法。
二、考試基本要求
考試題目類型因年而異，包括名詞解釋、選擇、填空、判斷正誤、公式推導、作圖、簡答和分析論述等不同形式。
三、考試形式與分值
本課程由學校自行命題，全國統一考試。采用閉卷筆試形式，考試時間為180分鐘，滿分為150分。
四、考試內容
1. 晶體光學基礎
（1）光的性質與傳播；（2）自然光和偏光；（3）光的折射與全反射；（4）折射率與折射率儀；（5）光的雙折射；（6）一軸晶和二軸晶
2. 光率體和光性方位
（1）光率體；（2）一軸晶光率體；（3）二軸晶光率體；（4）光率體的主要參數；（5）光性方位
3. 偏光顯微鏡原理與調節
（1）偏光顯微鏡的構造；（2）偏光顯微鏡的光學系統；（3）偏光顯微鏡的調節；（4）薄片的制作
4. 單偏光系統下晶體的光學性質
（1）形態；（2）解理；（3）顏色；（4）多色性；（5）吸收性；（6）邊緣；（7）貝克線；（8）糙面；（9）突起
5. 正交偏光系統下晶體的光學性質
（1）消光現象；（2）消光類型與消光角；（3）干涉原理；（4）干涉色；（5）干涉色級序的確定；（6）補色原理與補色器；（7）延性；（8）雙晶
6. 錐光（聚斂偏光）系統下晶體的光學性質
（1）錐光（聚斂偏光）系統；（2）一軸晶的干涉圖；（3）二軸晶的干涉圖；（4）光性
7. 晶體光學應用
（1）單偏光系統下的性質測定：包括晶形、顏色或多色性、突起與糙面、解理及解理夾角等；
（2）正交偏光系統下的性質測定：包括最高干涉色、最大雙折射率、消光類型及消光角、延性符號、多色性和吸收性公式、異常干涉色等；
（3）錐光（聚斂偏光）系統下的性質測定：包括按干涉圖類型確定礦物的軸性、測定光性符號、估計光軸角大小等
