一、考試形式與試卷結構
(一)試卷成績(jì)及考試時(shí)間
本試卷滿(mǎn)分為100分，考試時(shí)間為120分鐘。
(二)答題方式
答題方式為閉卷、筆試。
(三)試卷結構
選擇題;填空題;計算題等
二、考試目標：
1. 掌握高等數學(xué)的基本知識、基礎理論和基本方法。
2.運用高等數學(xué)的相關(guān)理論和方法分析、解決物理過(guò)程中的實(shí)際問(wèn)題。
三、考試范圍：
第一部分：高等數學(xué)
第一章 函數與極限
一 映射與函數
二 數列的極限
三 函數的極限
四 無(wú)窮小與無(wú)窮大
五 極限運算法則
六 極限存在準則 兩個(gè)重要極限
七 無(wú)窮小的比較
八 函數的連續性與間斷點(diǎn)
九 連續函數的運算與初等函數的連續性
十 閉區間上連續函數的性質(zhì)
第二章 導數與微分
一 導數概念
二 函數的求導法則
三 高階導數
四 隱函數及由參數方程所確定的函數的導數相關(guān)變化率
五 函數的微分
第三章 微分中值定理與導數的應用
一 微分中值定理
二 洛必達法則
三 泰勒公式
四 函數的單調性與曲線(xiàn)的凹凸性
五 函數的極值與*大值*小值
六 函數圖形的描繪
